計測から解析まで、
まとめて任せられる。
FT-IR・蛍光X線・電子顕微鏡などの各種装置による受託計測と、ベイズ推論に基づく受託解析。 試料の計測からデータ解析・レポート納品まで、1件のスポット依頼から承ります。
分光を中心とした各種計測を代行します。
以下の装置による計測に対応しています。試料をお送りいただくだけで、計測条件の設計から実施、データの整理までを代行します。
有機物・樹脂・薄膜の同定と定量。波数範囲 7800〜350 cm⁻¹。自社開発の自動スペクトル解析と組み合わせた定量評価が可能です。
極表面（数nm）の元素分析・化学状態分析。深さ方向分析や元素マッピングにも対応します。
B〜Uの元素分析。標準試料をご用意いただくことで定量分析にも対応します。
固体・粉体・液体・薄膜中のF〜Uを短時間で分析。標準試料なしの簡易定量（Si〜U）が可能です。
電子顕微鏡観察と同時に微小領域の元素分析（B〜U）。元素マッピングによる分布観察も可能です。
最大50万倍程度までの表面観察。イオンミリング・各種コータによる前処理にも対応します。
内部構造の非破壊観察。断面の可視化や内部欠陥の確認に有効です。
20〜800倍の拡大観察・三次元計測。金属・鉱物・FRPの組織観察にも対応します。
※ 上記は代表的な対応装置です。記載のない計測・試験についてもお気軽にご相談ください。
受託計測のご相談はこちら解析だけのご依頼も、
承ります。
お手持ちの計測データや他社装置で取得したデータの解析のみのご依頼も歓迎です。 自社開発の自動スペクトル解析技術とベイズ推論により、ピーク分離・定量、モデル選択、 不確かさ評価まで、根拠の明確な解析レポートをお届けします。
受託解析のご相談はこちら
ご依頼の流れ
課題・試料・データ形式・ご希望の納期をお聞かせください。秘密保持契約にも対応します。
目的に合わせて計測・解析の設計をご提案し、内容と費用をご提示します。
試料の計測とデータ解析を実施します。途中経過の共有も可能です。
解析結果を根拠とともにレポートにまとめて納品し、内容をご説明します。
計測・解析のご依頼、まずはご相談ください
試料・データの形式、必要な成果物・納期を伺い、最適な計測・解析プランとお見積りをご提案します。